产品检测
半导体分立器件失效分析
参考价
¥100.00
¥300.00
服务编号
P02710015844
报告语言
中文报告
报告形式
检测报告
其他形式
检测周期
3 个工作日
服务量
服务提供商
北京航空航天大学杭州创新研究院微电子与信息材料检测中心
服务详情
评价信息
一、服务简介
二、送样信息
样品邮寄地址:浙江省 杭州市 滨江区 长河街道矩航弄99号
样品接收人:金老师
联系方式:13216769305
三、检测项目
项目名称
检测标准
检测周期(工作日)
检测价格(元)
扫描声学显微镜检测
GJB 3157-1998 | 半导体分立器件失效分析方法和程序
3
200
微区体结构分析
JY/T 0584-2020 | 扫描电子显微镜分析方法通则
3
100
全部评价
非常满意
满意
一般
待改进
不满意
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