产品检测
- 硅单晶部分项目
- 参考价￥2,000.00 ￥2,450.00
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服务编号P00082000001
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报告语言
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报告形式
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检测周期7 个工作日
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服务量
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服务提供商
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- 服务详情
- 评价信息
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- 一、服务简介
- 二、送样信息
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样品邮寄地址：浙江省 衢州市 开化县 城关镇泉塘路51号样品接收人：邹剑秋联系方式：15726995681
- 三、检测项目
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项目名称 检测标准 检测周期（工作日） 检测价格（元） 直径 GB/T 14140-2009 | 硅片直径测量方法 7 100 电阻率 GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 7 200 径向电阻率变化 GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法 7 150 导电类型 GB/T 1550-1997 | 非本征半导体材料导电类型测试方法 7 150 载流子寿命 GB/T 26068-2010 | 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 7 300 碳含量 GB/T 1558-2009 | 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 7 150 氧含量 GB/T 1557-2006 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 7 150 晶体完整性 GB/T 1554-2009 | 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 7 500 晶向 GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法 7 200 晶向偏离度 GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法 7 150 参考面晶学取向 GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法 7 400
