项目名称 | 检测标准 | 检测周期(工作日) | 检测价格(元) |
---|---|---|---|
导电类型 | GB/T 1550-1997 | 非本征半导体材料导电类型测试方法 | 7 | 150 |
电阻率 | GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 | 7 | 200 |
径向电阻率变化 | GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法 | 7 | 150 |
载流子寿命 | GB/T 26068-2010 | 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 | 7 | 300 |
氧含量 | GB/T 1557-2006 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 7 | 150 |
碳含量 | GB/T 1558-2009 | 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 | 7 | 150 |
直径 | GB/T 14140-2009 | 硅片直径测量方法 | 7 | 100 |
厚度 | GB/T 6618-2009 | 硅片厚度和总厚度变化测试方法 | 7 | 200 |
总厚度变化 | GB/T 6618-2009 | 硅片厚度和总厚度变化测试方法 | 7 | 200 |
翘曲度 | GB/T 6620-2009 | 硅片翘曲度非接触式测试方法 | 7 | 300 |
全部项目 | GB/T 26071-2010 | 太阳能电池用硅单晶切割片 | 7 | 800 |